GB/T 14140-2009硅片直徑測(cè)量方法
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標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):GB/T 14140-2009硅片直徑測(cè)量方法
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
英文名稱: Test method for measuring diameter of semiconductor wafer
替代情況: 替代GB/T 14140.1-1993;GB/T 14140.2-1993
中標(biāo)分類: 冶金>>半金屬與半導(dǎo)體材料>>H82元素半導(dǎo)體材料
ICS分類: 電氣工程>>29.045半導(dǎo)體材料
發(fā)布部門: 中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
發(fā)布日期: 2009-11-30
實(shí)施日期: 2010-06-01
首發(fā)日期: 1993-02-06
提出單位: 全國(guó)半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC203)

