最大集電極-基極高溫截止電流檢測：核心檢測項目詳解

一、檢測項目定義與標準

1. • JEDEC JESD22-A108（高溫工作壽命測試）
   • MIL-STD-750（電子器件測試方法）
2. • 溫度范圍：通常為 ??=125°?∼150°?Tj?=125°C∼150°C（結溫）。
   • 偏置電壓：???VCB? 按器件規格書標稱值施加（如20V、50V）。
   • 穩定時間：高溫環境下需恒溫至少30分鐘，確保熱平衡。

二、檢測設備與配置

1. • 高低溫試驗箱：精度±1°C，支持快速升降溫。
   • 高精度源測量單元（SMU）：如Keysight B2900系列，分辨率達pA級。
   • 探針臺或夾具：耐高溫設計，減少接觸電阻。
   • 屏蔽箱：抑制環境電磁干擾。
2. • 采用四線制開爾文連接，消除引線電阻影響。
   • 基極開路，集電極-基極間施加反向偏壓，發射極懸空（圖1）。
   Plaintext
   [測試電路示意圖] V_CB (+) ---|晶體管 C| |B (開路) |E (懸空) GND (-) ----|

三、檢測步驟詳解

1. • 器件老化：按規格進行24小時常溫老化，排除早期失效。
   • 校準設備：SMU零點校正，高溫箱溫度傳感器校準。
2. • 將器件置于試驗箱，以 5°?/???5°C/min 升至目標溫度。
   • 熱耦合驗證：使用紅外熱像儀監測結溫均勻性。
3. • Step 1：施加 ???VCB? 至額定值（如50V），穩定5分鐘。
   • Step 2：通過SMU讀取 ????ICBO? 穩態值，采樣時間≥1分鐘。
   • Step 3：重復測試3次，取平均值作為最終結果。
4. • 記錄溫度、電壓、電流及環境濕度。
   • 異常點標注（如電流突跳需排查接觸不良）。

四、關鍵注意事項與誤差控制

1. • 熱噪聲：高溫導致載流子激發，需使用低噪聲線纜。
   • 接觸失效：探針氧化造成阻抗升高，定期清潔觸點。
2. • 實測 ????(???)ICBO(max)? ≤ 數據手冊標稱值的150%（行業容忍閾值）。
   • 若超出范圍，需結合失效分析（如SEM/EDS檢查材料缺陷）。
3. • 高溫操作佩戴隔熱手套，避免燙傷。
   • 測試后需冷卻至室溫后再取出器件，防止熱沖擊。

五、應用案例與結果分析

• 合格數據：1.2μA（規格值≤2μA）。
• 失效分析：電流超標樣品經解剖發現基極區金屬遷移，導致漏電通道。

六、