掃描電子顯微鏡（SEM-EDS）
發(fā)布時(shí)間：2025-07-08 17:31:10- 點(diǎn)擊數(shù)： - 關(guān)鍵詞：掃描電子顯微鏡（SEM-EDS）
實(shí)驗(yàn)室擁有眾多大型儀器及各類分析檢測設(shè)備，研究所長期與各大企業(yè)、高校和科研院所保持合作伙伴關(guān)系，始終以科學(xué)研究為首任，以客戶為中心，不斷提高自身綜合檢測能力和水平，致力于成為全國科學(xué)材料研發(fā)領(lǐng)域服務(wù)平臺。
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掃描電子顯微鏡(SEM-EDS)
廠家： FEI
型號：QUANTA FEG 450
技術(shù)指標(biāo)
功能：場發(fā)射環(huán)境掃描
加速電壓 ：200V ～ 30kV
較小分辨率：5nm
主要功能
可應(yīng)用于各種材料的研究，進(jìn)行結(jié)構(gòu)和成分表征。可以得到檢測材料的表面像和成分像，并輔以其他檢測來確定材料的性質(zhì)和元素組成。具有高真空、低真空和ESEM環(huán)境真空三種真空模式，分析樣品范圍廣泛，從傳統(tǒng)的金屬材料、斷口和拋光斷面，到不導(dǎo)電的軟物質(zhì)。
可用于表征測量亞微米尺寸的樣品，適用于新能源薄膜材料組成、形貌和成膜質(zhì)量的高精度觀測，納米材料樣品表面的觀測，多層鍍膜材料的制作工藝和缺陷分析，各種材料表面腐蝕及缺陷分析等。
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